IEC 60749-26:2006
半导体器件.机械和气候试验方法.第26部分:静电放电敏感性 (ESD)试验.人体模型(HBM)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)

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标准号

IEC 60749-26:2006

发布

2006年

发布单位

国际电工委员会

替代标准

IEC 60749-26:2013

当前最新

IEC 60749-26:2018

 

 

适用范围

IEC 60749 的这一部分建立了一个标准程序，用于根据半导体器件因暴露于定义的人体模型 (HBM) 静电放电 (ESD) 而损坏或退化的敏感性来测试和分类半导体器件。目标是提供可靠、可重复的 HBM ESD 测试结果，以便进行准确的分类。该测试方法适用于所有半导体器件，并被归类为破坏性测试。半导体器件的 ESD 测试选自本测试方法、机器模型 (MM) 测试方法（参见 IEC 60749-27）或 IEC 60749 系列中的其他 ESD 测试方法。 HBM 和 MM 测试方法产生相似但不相同的结果；除非另有说明，均选用本测试方法。注：本测试方法中的某些条款符合 IEC 61340-3-1。

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