IEC 60749-26:2013
半导体器件.机械和气候试验方法.第26部分:静电放电敏感性(ESD)测试.人体模型(HBM)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)

2018-01

 

 

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标准号
IEC 60749-26:2013
发布
2013年
发布单位
国际电工委员会
替代标准
IEC 60749-26:2018
当前最新
IEC 60749-26:2018
 
 
引用标准
IEC 60749-27
被代替标准
IEC 47/2160/FDIS:2013 IEC 60749-26:2006
适用范围
该标准根据元件和微电路暴露于规定的人体模型 (HBM) 静电放电 (ESD) 时对损坏或退化的敏感性（敏感性），建立了测试、评估和分类的程序。

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