SJ 2658.4-1986
半导体红外发光二极管测试方法.电容的测试方法

Methods of measurement for semiconductor infrared diodes Methods of measurement for capacitance

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标准号: SJ 2658.4-1986
发布日期
实施日期
废止日期: 无
中国标准分类号: L53
国际标准分类号: 31.260
发布单位: CN-SJ
代替标准: SJ/T 2658.4-2015

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