SJ/T 2658.4-2015
半导体红外发射二极管测量方法第4部分:总电容

Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode.Part 4: Total capacitance

SJT2658.4-2015, SJ2658.4-2015

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标准号: SJ/T 2658.4-2015
别名: SJT2658.4-2015, SJ2658.4-2015
发布: 2015年
发布单位: 行业标准-电子
当前最新: SJ/T 2658.4-2015

引用标准: SJ/T 2658.1
被代替标准: SJ 2658.4-1986

适用范围: 本部分规定了半导体红外发射二极管(以下简称器件)总电容的测量原理图、测量步骤以及规定条件。本部分适用于半导体红外发射二极管。

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