SJ 2658.4-1986
半导体红外发光二极管测试方法.电容的测试方法
Methods of measurement for semiconductor infrared diodes Methods of measurement for capacitance
- 标准号
- SJ 2658.4-1986
- 发布日期
- 实施日期
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- L53
- 国际标准分类号
- 31.260
- 发布单位
- 行业标准-电子
- 代替标准
- SJ/T 2658.4-2015