GJB 5914-2006
各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法
Methodsof destructive physical analysis for military semiconductor devices of all kinds of quality class
GJB 5914-2006 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- GJB 5914-2006
- 发布
- 2006年
- 发布单位
- 国家军用标准-国防科工委
- 当前最新
- GJB 5914-2006
- 引用标准
- GJB 128A-1997 GJB 4027A-2006 GJB 4152-2001 GJB 548A-1996 GJB/Z 299B-1998
- 本标准规定了GJB/Z 299B-1998 《电子设备可靠性预计手册》中所包括的各种军用质量等级半导体器件破坏性物理分析（DPA）方法，包括DPA程序的一般要求以及不同质量等级半导体器件DPA试验与分析的通用方法和缺陷判据。 本标准适用于有DPA要求的各种军用质量等级的半导体器件。
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