各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法 是非强制性国家标准,您可以免费下载前三页
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(RGA Testing | Package Gas Analysis | Oneida Research Services (orslabs.com))DPA则是保证空封器件可靠性的重要办法。GJB 4027 电子元器件破坏性物理分析方法涵盖了各类电子元器件结构图示及质量检查标准,是主要的DPA标准。而“空封九项”就来源于GJB 4027章节1101: 密封半导体集成电路的相关测试要求。...
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