GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序
Test methods and procedures for microelectronic device
2022-03
说明：
- 此图仅显示与当前标准最近的5级引用；
- 鼠标放置在图上可以看到标题编号；
- 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小；
- 表示标准的节点，可以拖动；
- 绿色表示标准：GJB 548B-2005 ， 绿色、红色表示本平台存在此标准，您可以下载或者购买，灰色表示平台不存在此标准；
- 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。
- 标准号
- GJB 548B-2005
- 发布
- 2005年
- 发布单位
- 国家军用标准-总装备部
- 替代标准
- GJB 548C-2021
- 当前最新
- GJB 548C-2021
- 引用标准
- GB/T 1036 GB/T 12842 GB/T 3131 GB/T 9178 GB/T 9491 GJB 1208 GJB 1209 GJB 128 GJB 2438 GJB 2712 GJB 360 GJB 597 GJB 899
- 被代替标准
- GJB 548A-1996
- 本标准规定了军用微电子器件的环境、机械、电气试验方法和试验程序，以及为保证微电子器件满足预定用途所要求的质量和可靠性而必须的控制和限制措施。 本标准适用于军用及空间应用的微电子器件。 如果承制方标明或声称其半导体集成电路符合本标准的规定，则必须满足方法5004、5005或5010（对复杂微电路）的要求，混合集成电路应满足GJB 2...
GJB 548B-2005相似标准
推荐
谁引用了GJB 548B-2005 更多引用
GB/T 36479-2018 集成电路 焊柱阵列试验方法
SJ 21042-2016 低温共烧陶瓷多层基板制造联线测试验证产品技术要求
GB/T 30110-2013 空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法
GB/T 14620-2013 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
GB/T 14619-2013 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
GA 1091-2013 基于13.56MHz的电子证件芯片环境适应性评测规范
GJB 33/19-2011 半导体光电子器件 GH302-4型光电耦合器详细规范
GJB 2888A-2011 有失效率等级的功率型电磁继电器通用规范
GJB 1515/1-2011 JGX-6MA型密封直流固体继电器详细规范
GJB 2283/1-2011 CAK45型有失效率等级的片式固体电解质钽电容器详细规范