JEDEC EIA-372-1970
小信号VHF-UHF晶体管准入参数的测量

Measurement of Small-Signal VHF-UHF Transistor Admittance Parameters

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标准号

JEDEC EIA-372-1970

发布日期

1970年01月01日

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L41

国际标准分类号

31.080.10

发布单位

US-JEDEC

适用范围

The measuring system must provide a means for applying bias to the transistor under test. The bias system must be such as not to influence the accuracy of the measurements.