JEDEC J-STD-035-1999
非气密封装电子元件用声波显微镜

Acoustic Microscopy for Nonhermetic Encapsulated Electronic Components


说明:

  • 此图仅显示与当前标准最近的5级引用;
  • 鼠标放置在图上可以看到标题编号;
  • 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小;
  • 表示标准的节点,可以拖动;
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  • 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。

 

 

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标准号
JEDEC J-STD-035-1999
发布日期
1999年04月01日
实施日期
废止日期
中国标准分类号
L53
发布单位
US-JEDEC
适用范围
This test method defines the procedurfeosr performing acoustic microscopy on onhennetic encapsulated electronic components. This method provides users with an acoustic microscopy processf ofrlo w detecting anomalies (delamination, crackms,o ld compound voids, etc.) nondestructively in plastic packages while achieving reproducibility.




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