JEDEC J-STD-035-1999
非气密封装电子元件用声波显微镜

Acoustic Microscopy for Nonhermetic Encapsulated Electronic Components


 

 

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标准号
JEDEC J-STD-035-1999
发布
1999年
发布单位
(美国)固态技术协会,隶属EIA
 
 
适用范围
该测试方法定义了对现场封装的电子元件进行声学显微镜检查的程序。该方法为用户提供了一种声学显微镜流程，可以无损地检测塑料封装中的异常情况（分层、裂纹、旧化合物空洞等），同时实现可重复性。

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