JEDEC J-STD-035-1999
非气密封装电子元件用声波显微镜

Acoustic Microscopy for Nonhermetic Encapsulated Electronic Components

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标准号

JEDEC J-STD-035-1999

发布日期

1999年04月01日

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L53

发布单位

US-JEDEC

适用范围

This test method defines the procedurfeosr performing acoustic microscopy on onhennetic encapsulated electronic components. This method provides users with an acoustic microscopy processf ofrlo w detecting anomalies (delamination, crackms,o ld compound voids, etc.) nondestructively in plastic packages while achieving reproducibility.