JEDEC JEP79-1969
光敏单元的寿命测试方法

Life Test Methods for Photoconductive Cells

JEDEC JEP79-1969 发布历史

This publication describes standard life test methods to be used in verifying or establishing the maximum ratings given in JEDEC registration format JS-4 RDF-2, "Photoconductive Cell, " dated iO/i6/65.

JEDEC JEP79-1969由(美国)固态技术协会,隶属EIA US-JEDEC 发布于 1969-09-01。

JEDEC JEP79-1969 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合，在国际标准分类中归属于: 31.080 半导体分立器件。

JEDEC JEP79-1969的历代版本如下：

• 1969年09月01日 JEDEC JEP79-1969 光敏单元的寿命测试方法

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标准号

JEDEC JEP79-1969

发布日期

1969年09月01日

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080

发布单位

US-JEDEC

适用范围

This publication describes standard life test methods to be used in verifying or establishing the maximum ratings given in JEDEC registration format JS-4 RDF-2, "Photoconductive Cell, " dated iO/i6/65.