JEDEC JEP118-1993
GaAs MMIC和FET寿命试验导则
Guidelines for GaAs MMIC and FET Life Testing
- 标准号
- JEDEC JEP118-1993
- 发布
- 1993年
- 发布单位
- (美国)固态技术协会,隶属EIA
- 当前最新
- JEDEC JEP118-1993
- 适用范围
- 寿命测试出于多种目的而进行。为检测婴儿死亡率而进行的测试持续时间较短；除非婴儿死亡率极高，否则本文件中指定的样本量还远远不够。确定特定应用的器件寿命的测试可以由客户进行或为客户进行，这里的压力和测试条件可以特定于该应用。其他寿命测试由制造商进行，涉及确定设备在典型或极端操作下的寿命。