BS EN 60749-9:2002
半导体器件.机械和气候试验方法.永久性标记
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Permanence of marking
2017-11
- 标准号
- BS EN 60749-9:2002
- 发布
- 2002年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 替代标准
- BS EN 60749-9:2017
- 当前最新
- BS EN 60749-9:2017
- 被代替标准
- 00/203566 DC-2000 BS EN 60749:1999
- 适用范围
- IEC 60749 这一部分的目的是测试和验证半导体器件上的标记在受到印刷电路板组装过程中去除助焊剂残留物过程中常用的溶剂或清洁溶液的影响时不会变得难以辨认。 该测试适用于所有封装类型。 它适用于资格和/或过程监控测试。 该测试应被视为非破坏性的。 电气或机械废品可用于本测试的目的。 一般来说，该标记持久性测试符合 IEC 60068-2-45，但由于半导体的特殊要求，该标准的条款适用。
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