IEC 60749-9:2002
半导体器件.机械和气候试验方法.第9部分:标记的永久性

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking

被代替

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 IEC 60749-9:2002 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

标准号

IEC 60749-9:2002

发布

2002年

发布单位

国际电工委员会

替代标准

IEC 60749-9:2002/COR1:2003

当前最新

IEC 60749-9:2017

 

 

被代替标准

IEC 47/1533A/CDV:2000 IEC 47/1604/FDIS:2002 IEC 60749:1996 IEC 60749 AMD 1:2000 IEC 60749 AMD 2:2001 IEC 60749 Edition 2.2:2002 IEC/PAS 62175:2000

适用范围

IEC 60749 这一部分的目的是测试和验证半导体器件上的标记在受到印刷电路板组装过程中去除助焊剂残留物过程中常用的溶剂或清洁溶液的影响时不会变得难以辨认。该测试适用于所有封装类型。它适用于资格和/或过程监控测试。该测试应被视为非破坏性的。电气或机械废品可用于本测试的目的。一般来说，该标记持久性测试符合 IEC 60068-2-45，但由于半导体的特殊要求，该标准的条款适用。注 1：此程序不适用于激光品牌封装。许多可用的溶剂要么活性不够，要么过于严格，甚至在直接接触或吸入烟雾时对人体有害。注 2：就通常的涂层和标记而言，本标准中使用的溶剂成分被认为是典型的并代表了所需的严格性。

IEC 60749-9:2002相似标准

推荐