CSN 35 8971-1984
半导体器件．掩膜基件和掩膜．特征参数的测量方法

Semiconductors devices. Substrates for masks and masks. Measuring methods of characteristic parameters

CSN 35 8971-1984 发布历史

Schválení ST SEV 3991-83 doporu?ilo federální ministerstvo elektrotechnického pr?myslu Zpracovatel: TESLA Ro?nov, k. p., Ro?nov pod Radho?těm V. Chmela?ova Oborové normaliza?ní st?edisko: TESLA Ro?nov, k. p., ing. D. Balá?ová Pracovník ??adu pro normalizaci a mě?ení: H. Musilová

CSN 35 8971-1984由CZ-CSN 发布于 1984-12-20。

CSN 35 8971-1984的历代版本如下：

• 1984年12月20日 CSN 35 8971-1984 半导体器件．掩膜基件和掩膜．特征参数的测量方法

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 CSN 35 8971-1984 前三页，或者稍后再访问。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

CSN 35 8971-1984

发布日期

1984年12月20日

实施日期

废止日期

无

发布单位

CZ-CSN

适用范围

Schválení ST SEV 3991-83 doporu?ilo federální ministerstvo elektrotechnického pr?myslu Zpracovatel: TESLA Ro?nov, k. p., Ro?nov pod Radho?těm V. Chmela?ova Oborové normaliza?ní st?edisko: TESLA Ro?nov, k. p., ing. D. Balá?ová Pracovník ??adu pro normalizaci a mě?ení: H. Musilová