NF C96-022-16*NF EN 60749-16:2003
半导体装置.机械和气候试验方法.第16部分:微粒碰撞噪声检测(PIND)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16 : particle impact noise dectection (PIND).


NF C96-022-16*NF EN 60749-16:2003 中,可能用到以下仪器设备

 

美国SD PIND颗粒碰撞噪声检测仪

美国SD PIND颗粒碰撞噪声检测仪

广州市科唯仪器有限公司

 

标准号
NF C96-022-16*NF EN 60749-16:2003
发布
2003年
发布单位
法国标准化协会
当前最新
NF C96-022-16*NF EN 60749-16:2003
 
 

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