TS 2553-1977
半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原则．第3部分：基准测量方法

Essential Ratings And Characteristics Of Semiconductor Devices And General Principles Of Measuring Methods Part 3 : Referance Methods Of Measurement


 

 

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 TS 2553-1977 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

 

标准号
TS 2553-1977
发布
1977年
发布单位
TR-TSE
当前最新
TS 2553-1977
 
 

TS 2553-1977相似标准

IEC 60147-3:1970 半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原则.第3部分:基准测量方法 TS 2552-1977 半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原则．第2部分：测量方法的一般原则 IEC 60147-2:1963 半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原则.第2部分:测量方法的一般原则 TS 2551-1977 半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原则．第1部分：基本额定值和特性 IEC 60147-1:1972 半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原则.第1部分:基本额定值和特性

推荐

硅上的多通道三栅极III-氮化物高电子迁移率晶体管

（d）用浮动基板测量的多通道三栅极晶体管的典型断态击穿特性。该团队称：“这些结果表明多通道三栅极技术可以降低晶体管在给定器件占位面积上的传导损耗，或者等效地在更小的器件占位面积内提供给定的电流额定值， 这对高效功率晶体管非常有益。“与平面参考相比，多通道MOSHEMT的导通电阻降低了38％，最大漏电流增加了41％。与平面设置的100％相比，鳍片结构的填充系数为50％。...

《电子天平》等364项推荐性国家标准公开征求意见

（GPS）   表面结构 区域法: 第606部分：非接触（变焦）式仪器的标称特性制订2021/9/730120202592-T-469产品几何技术规范(GPS)   表面结构:区域法 第604部分：非接触（相干扫描干涉测量）仪器的名义特性制订2021/9/730220201675-T-469产品几何技术规范（GPS）   坐标测量系统（CMS）的验收检测和复检检测 第8部分：使用光学距离传感器的坐标测量机制订...

国家标准委公开征求对216项拟立项国家标准项目的意见

1192纳米制造 关键控制特性 发光纳米材料 第3部分：使用时间相关单光子计数技术测定半导体量子点的荧光寿命制订2023/4/1193科技评估服务质量控制规范制订2023/4/1194起重机械 智能化系统 第1部分：术语和分级制订2023/4/1195包装 塑料桶 第1部分：公称容量为113.6升至220升的可拆盖（开口）桶制订2023/4/1196起重机 信息标牌 第3部分：塔式起重机修订2023...

中国计量测试学会科学技术进步奖获奖项目简介

使我国成为第3个解决了整个中红外波段透射比量值绝对定标问题的国家;建立首个中红外透射比社会公用计量标准装置，从法制计量角度解决了我国材料中红外光谱透射比的量值溯源问题。　　该项目已为我国多颗卫星的重要载荷光学器件、高分辨率对地观测系统等进行了高精度定标，在国家重大设备的测量精度和可靠运行中发挥了重要作用。　　...


Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号