IEC 60147-2:1963
半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原则.第2部分:测量方法的一般原则

Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods

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标准号

IEC 60147-2:1963

发布

1963年

发布单位

国际电工委员会

当前最新

IEC 60147-2:1963

 

 

代替标准

IEC 60747-2:1983 IEC 60747-1:1983 IEC 60747-6:1983

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