IEC 60749-12 Corrigendum 1-2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第12部分:振动、可变频率

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency

IEC 60749-12 Corrigendum 1-2003 发布历史

This is Technical Corrigendum 1 to IEC 60749-12-2002 (Semiconductor devices -Mechanical and climatic test methods -Part 12:Vibration, variable frequency)

IEC 60749-12 Corrigendum 1-2003由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2003-08。

IEC 60749-12 Corrigendum 1-2003 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合，在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。

IEC 60749-12 Corrigendum 1-2003的历代版本如下：

• 2003年08月 IEC 60749-12 Corrigendum 1-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第12部分:振动、可变频率

IEC 60749-12 Corrigendum 1-2003 于 2017-12-13 变更为 IEC 60749-12-2017 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第12部分:振动 变频。

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标准号

IEC 60749-12 Corrigendum 1-2003

发布日期

2003年08月

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

IX-IEC

代替标准

IEC 60749-12-2017

适用范围

This is Technical Corrigendum 1 to IEC 60749-12-2002 (Semiconductor devices -Mechanical and climatic test methods -Part 12:Vibration, variable frequency)