IEC 60749-13:2002/COR1:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第13部分:盐性环境
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere
2018-02
- 标准号
- IEC 60749-13:2002/COR1:2003
- 发布
- 2003年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 替代标准
- IEC 60749-13:2018
- 当前最新
- IEC 60749-13:2018
- 适用范围
- This is Technical Corrigendum 1 to IEC 60749-13-2002 (Semiconductor devices -Mechanical and climatic test methods -Part 13:Salt atmosphere)
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