GB/Z 21738-2008
一维纳米材料的基本结构.高分辨透射电子显微镜检测方法
Fundamental structures of one dimensional nano-materials.High resolution transmission electron microscopy characterization
GB/Z 21738-2008 发布历史
本指导性技术文件规定了采用高分辨透射电子显微镜检测纳米材料中一维或准一维纳米材料的原理，术语和定义，仪器和设备，样品制备，测量程序，结果表示以及试验报告等。 本指导性技术文件适用于测量一维或准一维纳米材料的基本结构（形貌、排列情况、大小线度的分布、晶化情况、生长取向关系），元素组分，截面及界面原子排布等。
GB/Z 21738-2008由国家质检总局 CN-GB 发布于 2008-05-08，并于 2008-12-01 实施。
GB/Z 21738-2008 在中国标准分类中归属于: G04 基础标准与通用方法,N30 光学仪器综合，在国际标准分类中归属于: 17.180.01 光学和光学测量综合。
GB/Z 21738-2008 发布之时，引用了标准
- GB/T 19619 纳米材料术语
GB/Z 21738-2008的历代版本如下：
- 2008年05月08日 GB/Z 21738-2008 一维纳米材料的基本结构.高分辨透射电子显微镜检测方法
- 标准号
- GB/Z 21738-2008
- 发布日期
- 2008年05月08日
- 实施日期
- 2008年12月01日
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- G04;N30
- 国际标准分类号
- 17.180.01
- 发布单位
- CN-GB
- 引用标准
- GB/T 19619
- 适用范围
- 本指导性技术文件规定了采用高分辨透射电子显微镜检测纳米材料中一维或准一维纳米材料的原理，术语和定义，仪器和设备，样品制备，测量程序，结果表示以及试验报告等。 本指导性技术文件适用于测量一维或准一维纳米材料的基本结构（形貌、排列情况、大小线度的分布、晶化情况、生长取向关系），元素组分，截面及界面原子排布等。
GB/Z 21738-2008 中可能用到的仪器设备
扫描探针/原子力显微镜SPM/AFM
X荧光光谱/XRF（波长色散型）
X射线显微镜
拉曼光谱仪
过程质谱/在线质谱
其它光学测量仪
激光共聚焦显微镜
X射线能谱仪(EDS)
X射线衍射仪(XRD)
液质联用仪
电镜制样设备
透射电镜TEM
电镜附件及外设
扫描电镜SEM
材料/金相显微镜
生物显微镜
X射线(衍射)仪/能谱仪部件及外设
X射线散射仪
X荧光光谱/XRF（能量色散型X荧光光谱仪）
液相色谱仪LC
工业CT
纳米压痕仪、划痕仪
激光粒度仪、纳米粒度仪
粒子分散性分析仪
颗粒计数器
实验室管理系统/LIMS
熔样机
生物大分子相互作用仪
细胞成像/高内涵成像
电泳仪及附件
条码扫描仪
粉尘测定仪/粉尘仪
VOC检测仪/TVOC监测仪
PM2.5/PM10/PM1/TSP环境大气颗粒物监测仪
多组分气体分析仪
不溶性微粒检测仪
石油测硫仪
轮廓仪/粗糙度仪
粒子图像测速仪(PIV)
信号采集处理