ASTM F1662-04
薄膜开关的规定的介质抗电强度的验证和介质击穿电压测定的标准试验方法

Standard Test Method for Verifying the Specified Dielectric Withstand Voltage and Determining the Dielectric Breakdown Voltage of a Membrane Switch


 

 

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标准号
ASTM F1662-04
发布
2004年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM F1662-10
当前最新
ASTM F1662-16
 
 
适用范围
介电耐压测试对于设计验证、材料质量控制和工艺非常有用。该测试方法用于验证薄膜开关能否在其额定电压下安全运行,并能承受由于开关、浪涌和其他类似电气现象而产生的瞬时过电势。测试的具体领域包括但不限于:
4.3.1 导体/电介质/导体交叉点, 4.3.2 导体的紧密接近,以及 4.3.3 任何其他导电表面,例如屏蔽或金属背板。介电耐压测试可能具有破坏性,经过测试的装置应被视为对未来使用不可靠。
1.1 本测试方法涵盖薄膜开关指定介电耐压或介电击穿电压的验证。

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