ASTM F418-77(2002)
测量霍尔效应用恒定成分范围的外延磷化砷化镓试样的制备

Standard Practice for Preparation of Samples of the Constant Composition Region of Epitaxial Gallium Arsenide Phosphide for Hall Effect Measurements

2008-07

ASTM F418-77(2002) 中,可能用到以下仪器

 

上海胤企制冷设备多通道自动化霍尔测试系统

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上海胤企制冷设备有限公司

 

HTS-110霍尔效应测试

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霍尔效应测试仪

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伯东企业(上海)有限公司

 

英国 NanoMagnetics 霍尔效应测量仪

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霍尔效应测试HTS-110

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上海柯舜科技有限公司

 

霍尔效应测试HTS-110

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霍尔效应测试XT系列HTS-110

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霍尔效应测试仪 ITO 薄膜测试

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ASTM F418-77(2002)

标准号
ASTM F418-77(2002)
发布
1977年
发布单位
美国材料与试验协会
当前最新
ASTM F418-77(2002)
 
 
引用标准
ASTM D1125 ASTM F358 ASTM F76
已知发光二极管的效率随起始材料的载流子密度而变化。该过程提供了一种制备样本的技术,其中可以在器件制造的典型区域中测量霍尔载流子密度。该量与载流子密度相关,可以直接用作质量控制参数。迁移率是半导体许多参数的函数,包括电离杂质密度、补偿和晶格缺陷,其中一些或全部可能与器件质量所反映的材料质量有关。使用该程序使得可以测量恒定成分区域的迁移率。由于在 GaAs (1...

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