ASTM E2056-04
使用代用品混合物校正的多变量分析中使用的分光计和分光光度计鉴定的标准规程

Standard Practice for Qualifying Spectrometers and Spectrophotometers for Use in Multivariate Analyses, Calibrated Using Surrogate Mixtures


 

 

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标准号
ASTM E2056-04
发布
2004年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM E2056-04(2010)
当前最新
ASTM E2056-04(2016)
 
 
适用范围
采用替代校准的标准测试方法的开发人员应该使用这种做法。
5.1.1 此做法有助于测试方法开发人员设置和记录可执行测试方法的光谱仪/分光光度计的要求。
5.1.2 该做法有助于测试方法开发人员设置和记录测试方法的光谱数据收集和计算参数。
5.1.3 这种做法有助于测试方法开发人员在可用于建立替代校准的可能的多元分析程序中进行选择。该实践描述了应执行的统计测试,以确保测试方法范围内允许的所有多变量分析程序产生统计上无法区分的结果。
5.1.4 本实践描述了测试方法开发人员应对校准和鉴定数据执行的统计计算,这些数据应作为建立测试方法精度的 ILS 的一部分而收集。这些计算确定了光谱仪/分光光度计必须满足的性能水平才能执行测试方法。本实践描述了校准光谱仪/分光光度计的人员如何测试所述光谱仪/分光光度计的性能以确定该性能是否足以进行测试方法。本实践描述了光谱仪/分光光度计的用户如何使光谱仪/分光光度计能够进行测试方法。
1.1 本实践涉及用于确定材料的物理和化学特性的光谱仪和分光光度计的多变量校准。实践 E1655 中给出了一般多变量分析的详细描述。本标准仅涉及可使用替代混合物建立合适的校准矩阵的情况。本规范规定了实验室间研究(ILS)的校准和鉴定数据集要求,即采用不完全符合规范 E1655 的替代校准技术的标准测试方法的循环。 注 1——对于某些多元光谱分析,干扰基质效应足够小,可以使用比最终分析的样品所含化学成分少得多的混合物进行校准。虽然这些替代方法通常利用实践 E1655 中描述的多元数学,但它们不符合其中描述的程序,特别是在异常值的处理方面。
1.2 该实践规定了如何处理 ILS 数据来建立分光光度计/分光光度计性能注 2——光谱仪/分光光度计鉴定程序旨在让用户确定特定光谱仪/分光光度计的性能是否足以进行分析,以获得与已公布的测试方法精度。
1.2.1 替代测试方法中使用的光谱包括但不限于中红外和近红外、紫外/可见光谱、荧光和拉曼光谱。
1.2.2 本实践中涵盖的替代校准是:多重线性回归 (MLR)、主成分回归 (PCR) 或偏最小二乘 (PLS) 数学。这些校准程序在实践 E1655.1.3 中详细描述。对于替代测试方法,该实践建议对测试方法中允许的校准选项应施加的限制。具体来说,这种做法建议测试方法开发人员证明......

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