ASTM F1190-93
未加偏压的电子元件的中子照射标准指南

Standard Guide for Neutron Irradiation of Unbiased Electronic Components

被代替

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标准号

ASTM F1190-93

发布

1993年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM F1190-99

当前最新

ASTM F1190-18

 

 

1.1 本实践适用于无偏硅（Si）或砷化镓（GaAs）半导体元件暴露于来自核反应堆源的中子辐射。本实践仅涉及暴露条件。辐射对测试样品的影响应使用适当的电气测试方法来确定。 1.2 系统和子系统的暴露和测试方法不包括在本实践中。 1.3 本实践适用于以脉冲或稳态模式运行的反应堆进行的辐照。半导体测试中中子注量(eq，1MeV，Si或eq，1MeV，GaAs...

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