ASTM E1854-19
确保电子零件中子诱发位移损伤试验一致性的标准实施规程

Standard Practice for Ensuring Test Consistency in Neutron-Induced Displacement Damage of Electronic Parts

标准号

ASTM E1854-19

发布

2019年

发布单位

美国材料与试验协会

当前最新

ASTM E1854-19

 

 

引用标准

ASTM E1018 ASTM E1249 ASTM E1250 ASTM E1297 ASTM E170 ASTM E181 ASTM E1855 ASTM E2005 ASTM E2450 ASTM E261 ASTM E262 ASTM E263 ASTM E264 ASTM E265 ASTM E393 ASTM E481 ASTM E482 ASTM E496 ASTM E523 ASTM E526 ASTM E666 ASTM E668 ASTM E704 ASTM E705 ASTM E720 ASTM E721 ASTM E722 ASTM E798 ASTM E844 ASTM E944 ASTM F1190 ASTM F980

适用范围

1.1 本实践提出了确保硅和砷化镓电子零件中子致位移损伤测试一致性的要求。这需要对影响这些测试的准确性和可重复性的设施、剂量测定、测试仪和通信过程进行控制。它提供了有关中子测试要求和附加建议的技术基础的背景信息。
1.2 提出了确保和验证集成电路、晶体管和二极管等电子部件中子位移损伤测试一致性的方法。本实践中发现的问题和提出的控制措施解决了辐射环境的特征和适用性。它们通常适用于反应堆源、基于加速器的中子源，例如 14-MeV DT 源和 252 Cf 源。识别引起并发症或问题的设施和环境特征，并提供建议来识别、最小化或消除这些问题。该实践可由设施用户、测试人员、设施操作员和独立过程验证者使用，以确定设施内特定环境和整个测试过程的适用性。其他标准（例如 Guide F980）中也涉及电气测量。有关进行辐照的更多信息，请参阅实践 E798 和 F1190。这种做法也可用于测试赞助商（制定测试规范的组织或以其他方式对中子环境中电子设备的性能拥有既得利益的组织）。
1.3 本实践讨论了评估和控制不良损害的方法。提供了相关 ASTM 标准和技术报告的参考。用于达到电子系统适当测试环境和规范水平的过程和方法超出了本实践的范围；然而，根据操作环境中子谱确定 1-MeV 等效位移规格的过程应采用本文所述的方法和参数。附录 X1（非强制性信息）中阐述了一些重要的考虑因素和建议。
1.4 以 SI 单位表示的值应被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。
1.5 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任建立适当的安全、健康和环境实践，并在使用前确定监管限制的适用性。
1.6 本国际标准是根据世界贸易组织贸易技术壁垒（TBT）委员会发布的《关于制定国际标准、指南和建议的原则的决定》中确立的国际公认的标准化原则制定的。

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