ASTM E1161-95
半导体和电子元件的放射性的测试方法

Standard Test Method for Radiologic Examination of Semiconductors and Electronic Components

被代替

ASTM E1161-95 发布历史

ASTM E1161-95由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 1995。

ASTM E1161-95 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合。

ASTM E1161-95的历代版本如下：

• 2021年 ASTM E1161-21 半导体和电子元件射线照相检验的标准实施规程
• 2009年 ASTM E1161-09(2014) 半导体和电子元件射线检验的标准实施规程
• 2009年 ASTM E1161-09 半导体和电子元件放射学检查标准实践
• 2003年 ASTM E1161-03 半导体和电子元件放射性检验的标准试验方法
• 1995年 ASTM E1161-95 半导体和电子元件的放射性的测试方法

1.1 本测试方法提供了半导体器件、电子元件以及用于构建这些项目的材料的无损射线照相检查的标准程序。该测试方法涵盖了这些项目的射线照相测试，以发现可能的缺陷情况，例如密封外壳内的异物、内部连接不正确、用于元件安装的材料或密封玻璃中的空隙或物理损坏。

1.2 被测样品的质量水平和验收标准应在详细图纸、采购订单或合同中规定。

1.3 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

标准号

ASTM E1161-95

发布

1995年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E1161-03

当前最新

ASTM E1161-21

 

 

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