ASTM E1161-09(2014)
半导体和电子元件射线检验的标准实施规程

Standard Practice for Radiologic Examination of Semiconductors and Electronic Components

被代替

标准号

ASTM E1161-09(2014)

发布

2009年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E1161-21

当前最新

ASTM E1161-21

 

 

引用标准

ANSI/ASNT CP-189 ANSI/ESD S20.20 ASTM E1000 ASTM E1079 ASTM E1254 ASTM E1255 ASTM E1316 ASTM E1390 ASTM E1411 ASTM E1453 ASTM E1475 ASTM E1742 ASTM E1815 ASTM E1817 ASTM E2339 ASTM E2597 ASTM E431 ASTM E543 ASTM E666 ASTM E801 ASTM E94 ASTM E999 MIL-PRF-28861 MIL-STD-202 MIL-STD-750 MIL-STD-883 MIL-STD-981

适用范围

1.1 本实践规定了半导体器件、微电子器件、电磁器件、电子电气器件以及用于构造这些物品的材料的无损放射学检查的最低要求。
1.2 这种做法涵盖了对这些物品进行放射学检查，以检测密封箱内可能存在的缺陷情况，尤其是因将盖子密封到箱上而产生的缺陷，以及内部缺陷，例如异物（异物）、不正确的互连线、芯片连接材料或玻璃（使用密封玻璃时）中的空隙或物理损坏。 1.3 以英寸-磅为单位的数值被视为标准值。本实践中不包括其他测量单位。
1.4 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。