ASTM E1250-88(2005)
硅电子器件辐射强度试验用钴60辐射源的低能γ成分评估的电离箱的应用的标准试验方法

Standard Test Method for Application of Ionization Chambers to Assess the Low Energy Gamma Component of Cobalt-60 Irradiators Used in Radiation-Hardness Testing of Silicon Electronic Devices

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标准号

ASTM E1250-88(2005)

发布

1988年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E1250-10

当前最新

ASTM E1250-15(2020)

 

 

尽管 Co-60 核仅发射 1.17 和 1.33 MeV 的单能伽马射线，但源的有限厚度以及不可避免地存在于辐照器中的封装材料和其他周围结构可以贡献大量的低能伽马辐射，主要由康普顿散射 (1, 2).3 在电子设备的辐射硬度测试中，伽马能谱的这种低能光子分量可能会给被测设备带来显着的剂量测定误差，因为剂量计测量的平衡吸收剂量可能会有很大差异由于吸收剂量增强...

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