ASTM E1505-92(2001)
根据离子移植外标物测定 SIMS 有关敏感因素的标准指南
Standard Guide for Determining SIMS Relative Sensitivity Factors from Ion Implanted External Standards
2010-02
ASTM E1505-92(2001) 发布历史
ASTM E1505-92(2001)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 1992，于 2010-02-01 废止。
ASTM E1505-92(2001) 在中国标准分类中归属于: C04 基础标准与通用方法，在国际标准分类中归属于: 11.040.40 外科植入物、假体和矫形,71.040.50 物理化学分析方法。
ASTM E1505-92(2001) 发布之时，引用了标准
- ASTM E673 与表面分析相关的标准术语*， 1998-07-05 更新
* 在 ASTM E1505-92(2001) 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。
ASTM E1505-92(2001)的历代版本如下：
- 1992年 ASTM E1505-92(2001) 根据离子移植外标物测定 SIMS 有关敏感因素的标准指南
- 1992年 ASTM E1505-92(1996) 根据离子移植外标物测定 SIMS 有关敏感因素的标准指南
1.1 本指南的目的是为二次离子质谱 (SIMS) 分析人员提供两种程序，用于根据离子注入的外部标准确定相对灵敏度因子 (RSF)。本指南可用于获取微量元素（1 原子%）的 RSF。此外，本指南不描述从异质（横向或深度）样本中的种植体获取 RSF 的程序。
1.3 以 SI 单位表示的值应被视为标准。
1.4 本标准并不旨在解决所有问题与其使用相关的安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。
