ASTM E423-71(2008)
升温时非传导样品的正常光谱发射的标准试验方法

Standard Test Method for Normal Spectral Emittance at Elevated Temperatures of Nonconducting Specimens

被代替

ASTM E423-71(2008) 发布历史

ASTM E423-71(2008)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 1971。

ASTM E423-71(2008) 在中国标准分类中归属于: V10 航空、航天材料基础标准，在国际标准分类中归属于: 49.025.01 航空航天制造用材料综合。

ASTM E423-71(2008)的历代版本如下：

• 2019年 ASTM E423-71(2019) 非导电试样高温下正常光谱发射率的标准试验方法
• 1971年 ASTM E423-71(2014) 不导电样本升高温度时标准光谱发射的标准试验方法
• 1971年 ASTM E423-71(2008) 升温时非传导样品的正常光谱发射的标准试验方法
• 1971年 ASTM E423-71(2002) 升温时非传导样品的正常光谱发射试验方法
• 1971年 ASTM E423-71(1996)e1 升温时非传导样品的正常光谱发射试验方法

通过对该技术的局限性的讨论来体现其重要特征。通过本测试方法以下部分的描述和安排，仪器将直接记录样品的法向光谱发射率。但是，必须在可接受的公差范围内满足以下条件，否则必须针对指定条件进行修正。样本和黑体的有效温度必须在 1 K 以内。然而，由于温度均匀性通常不比几个开尔文好，因此出现了实际限制。两束光的光路长度必须相等，或者最好仪器应在非吸收性气氛中工作，以消除两束大气吸收差异的影响。在许多情况下，空气中的测量很重要，并且不一定会得到与真空中相同的结果，因此双光束仪器的光路相等变得非常关键。注 48212；需要对分光光度计进行非常仔细的光学对准，以最大程度地减少仪器两个路径上吸收率的差异，并仔细调整斩波器时序以减少“串扰”； （参考信号和样品信号的重叠）以及减少分光光度计中杂散辐射的预防措施需要保持零线平坦。通过最佳调整，“100%线”将持平在 3% 以内。除棱镜单色仪中的棱镜外，必须始终使用前表面镜光学器件，并且应该强调的是，在两个光束中必须使用等效的光学元件，以减少和平衡光学元件吸收引起的光束衰减。建议光学表面不含 SiO2 和 SiO 涂层：MgF2 可用于长时间稳定镜面。这些涂层的光学特性至关重要，但如果在测量过程中所有光路均固定或入射角在操作模式之间（0% 线、100% 线和样品测量期间）不发生变化，则可以放宽。建议所有光学元件充分充满能量。两个光束的源孔径和场孔径必须相等，以确保设备比较的两个光束中的辐射通量将属于相等的源面积和相等的发射立体角。在某些情况下，在比较替代测量技术时可能需要定义源和样本的立体角。探测器放大器系统的响应必须随入射辐射通量线性变化，或者必须进行线性校准，并对观察到的线性偏差进行校正。

1.1 本测试方法描述了一种测量非导电材料正常光谱发射率的精确技术。材料的温度范围为 1000 至 1800 K，波长范围为 1 至 35 µm。它特别适合测量陶瓷氧化物等材料的法向光谱发射率，这些材料具有相对较低的热导率，并且在表面以下相当大的深度（几毫米）处是半透明的，但在厚度为 10 毫米或更薄时变得基本上不透明。

1.2 这种测试方法需要昂贵的设备和相当复杂的预防措施，但产生的数据精确度在百分之几以内。它特别适合需要最高精度和准确度的研究实验室，不建议用于常规生产或验收......

标准号

ASTM E423-71(2008)

发布

1971年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E423-71(2014)

当前最新

ASTM E423-71(2019)

 

 

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