ASTM E423-71(2014)
不导电样本升高温度时标准光谱发射的标准试验方法

Standard Test Method for Normal Spectral Emittance at Elevated Temperatures of Nonconducting Specimens


标准号
ASTM E423-71(2014)
发布
1971年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM E423-71(2019)
当前最新
ASTM E423-71(2019)
 
 
引用标准
ASTM E349
适用范围
1.1 样本和黑体的有效温度必须相差在1K以内。然而,由于温度均匀性通常不比几个开尔文好,因此出现了实际限制。
5.1.2 两束光路长度必须相等,或者最好仪器应在非吸收性气氛中工作,以消除两束大气吸收差异的影响。在许多情况下,空气中的测量很重要,并且不一定会得到与真空中相同的结果,因此双光束仪器的光路相等变得非常关键。注 4——分光光度计的非常仔细的光学对准需要最大限度地减少仪器两个路径上的吸收率差异,并仔细调整斩波器时序以减少“串扰”。 (参考信号和样品信号的重叠)以及减少分光光度计中杂散辐射的预防措施需要保持零线平坦。经过最佳调整后,“100%线”就可以实现。将持平在 3% 以内。
5.1.3除棱镜单色仪中的棱镜外,全部采用前表面镜光学器件,并应强调两光束必须采用等效的光学元件,以减少和平衡光束的衰减通过光学元件的吸收。建议光学表面不含 SiO2 和 SiO 涂层:MgF2 可用于长时间稳定镜面。这些涂层的光学特性至关重要,但如果在测量过程中所有光路均固定或入射角在操作模式之间(0% 线、100% 线和样品测量期间)不发生变化,则可以放宽。建议所有光学元件充分充满能量。
5.1.4 两束光的源孔径和视场孔径必须相等,以确保设备比较的两束光的辐射通量与源面积相等和发射立体角相等。在某些情况下,在比较替代测量技术时可能需要定义源和样本的立体角。
5.1.5 探测器放大器系统的响应必须随入射辐射通量线性变化,或者必须进行线性校准,并对观察到的线性偏差进行校正。
1.1 本测试方法描述了一种在 1000 至 1800 K 温度范围、1 至 35 µm 波长下测量非导电材料正常光谱发射率的精确技术。它特别适合测量陶瓷氧化物等材料的法向光谱发射率,这些材料具有相对较低的热导率,并且在表面以下相当大的深度(几毫米)是半透明的,但它们变得本质......

ASTM E423-71(2014)相似标准


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