EN 60749-27:2006
半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)IEC 60749-27-2006

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (Incorporates Amendment A1: 2012)


 

 

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标准号
EN 60749-27:2006
发布
2006年
发布单位
欧洲电工标准化委员会
当前最新
EN 60749-27:2006
 
 

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