DIN EN 60749-27:2013
半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)敏感度检验.机器模型(MM).(IEC 60749-27-2006 + A1-2012).德文版本EN 60749-27-2006 + A1-2012

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006 + A1:2012); German version EN 60749-27:2006 + A1:2012

 

 

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 DIN EN 60749-27:2013 前三页，或者稍后再访问。

如果您需要购买此标准的全文，请联系： 。

点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

 

标准号
DIN EN 60749-27:2013
发布
2013年
发布单位
德国标准化学会
当前最新
DIN EN 60749-27:2013
 
 
被代替标准
DIN EN 60749-27:2007 DIN EN 60749-27/A1:2011

DIN EN 60749-27:2013相似标准

LST EN 60749-27-2006/A1-2013 半导体器件 机械和气候测试方法 第27部分：静电放电（ESD）灵敏度测试 机器模型（MM）（IEC 60749-27:2006/A1:2012） EN 60749-27:2006 半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)IEC 60749-27-2006 LST EN 60749-27-2006 半导体器件 机械和气候测试方法 第27部分：静电放电（ESD）灵敏度测试 机器模型（MM）（IEC 60749-27:2006） NF C96-022-27/A1*NF EN 60749-27/A1:2013 半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分：静电放电（ESD）敏感度检验 机器模型（MM） IEC 60749-27:2012 半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)敏感度检测.机械模型(MM)

推荐

史上最全可靠性试验标准，384项，不仅包括中国标准

半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性测试前非密封表面安装设备预处理(IEC 60749-30-2005+A1-2011).德文版 EN 60749-30-2005+A1-2011DIN EN 61747-5-3-2010 液晶显示装置.第5-3部分:环境、耐久性和机械试验方法.玻璃强度和可靠性(IEC 61747-5-3-2009,修改件).德文版本EN 61747-5-3-2010DIN...

谁引用了DIN EN 60749-27:2013 更多引用

DIN EN 61340-5-1:2017 静电学.第5-1部分:电子装置对静电现象的防护.一般要求(IEC 61340-5-1-2016);德文版本EN 61340-5-1-2016 DIN EN 60749-26:2014 半导体器件.机械和气候试验方法.第26部分:静电放电(ESD)灵敏度试验.人体模型(HBM)(IEC 60749-26-2013).德文版本EN 60749-26-2014


Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号