IEC 60749-34:2004
半导体器件.机械和气候试验方法.第34部分:电力循环

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling

作废

2010-10

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标准号: IEC 60749-34:2004
发布: 2004年
发布单位: 国际电工委员会
替代标准: IEC 60749-34:2005
当前最新: IEC 60749-34:2010

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