GB/T 23414-2009
微束分析.扫描电子显微术.术语
Microbeam analysis.Scanning electron microscopy.Vocabulary
GBT23414-2009, GB23414-2009
GB/T 23414-2009 发布历史
本标准定义了扫描电子显微术(SEM)实践中使用的术语。包括一般术语和按技术分类的具体概念的术语，也包括已经在ISO 23833中定义的术语。 本标准适用于所有有关SEM实践的标准化文件。另外，本标准的某些术语定义，也适用于相关领域的文件〔例如:电子探针显微分析(EPMA)、分析电子显微术(AEM)、能谱法(EDX)等〕。
GB/T 23414-2009由国家质检总局 CN-GB 发布于 2009-04-01，并于 2009-12-01 实施。
GB/T 23414-2009 在中国标准分类中归属于: N33 电子光学与其他物理光学仪器。
GB/T 23414-2009 采用标准及采用方式
- IDT ISO 22493:2008微光束分析.扫描电子显微镜方法.词汇
GB/T 23414-2009的历代版本如下：
- 2009年 GB/T 23414-2009 微束分析.扫描电子显微术.术语
- 标准号
- GB/T 23414-2009
- 别名
- GBT23414-2009
GB23414-2009 - 发布
- 2009年
- 采用标准
- ISO 22493:2008 IDT
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 23414-2009
- 适用范围
- 本标准定义了扫描电子显微术(SEM)实践中使用的术语。包括一般术语和按技术分类的具体概念的术语，也包括已经在ISO 23833中定义的术语。 本标准适用于所有有关SEM实践的标准化文件。另外，本标准的某些术语定义，也适用于相关领域的文件〔例如:电子探针显微分析(EPMA)、分析电子显微术(AEM)、能谱法(EDX)等〕。