BS EN 60749-23:2004
半导体器件.机械和气候试验方法.高温操作寿命
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - High temperature operating life
2004-06
- 标准号
- BS EN 60749-23:2004
- 发布
- 2004年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 替代标准
- BS EN 60749-23:2004+A1:2011
- 当前最新
- BS EN 60749-23:2004+A1:2011
- 适用范围
- 该测试用于确定偏置条件和温度随时间对固态器件的影响。 它以加速方式模拟设备运行状况，主要用于设备鉴定和可靠性监控。 一种使用短持续时间的高温偏置寿命形式，通常称为“老化”，可用于筛选与婴儿死亡率相关的故障。 老化的详细使用和应用不属于本标准的范围。
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