KS C IEC 60749-23-2006
半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温操作寿命

Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 23：High temperature operating life

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标准号

KS C IEC 60749-23-2006

发布日期

2006年03月24日

实施日期

2006年03月24日

废止日期

无

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

KR-KATS

适用范围

이 시험은 시간이 지남에 따라 바이어스 조건과 온도가 고체 상태 소자에 미치는 영향을 알아