JIS G 1322-1:2010由日本工业标准调查会 JP-JISC 发布于 2010-01-20。
JIS G 1322-1:2010 在中国标准分类中归属于: H17 半金属及半导体材料分析方法,在国际标准分类中归属于: 77.100 铁合金。
JIS G 1322-1:2010 金属硅化学分析方法.第1部分:硅含量的测定方法的最新版本是哪一版?
最新版本是 JIS G 1322-1:2010 。
* 在 JIS G 1322-1:2010 发布之后有更新,请注意新发布标准的变化。
本标准规定了金属硅中硅含量的测定方法。
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2020/1/1本部分适用于钴铬烤瓷合金中铬量的测定。测定范围20.00 %~30.00 %。YS/T 1330.3-2019钴铬烤瓷合金化学分析方法 第3部分:硅含量的测定 硅钼蓝分光光度法本部分规定了钴铬烤瓷合金中硅量的测定方法。 2020/1/1本部分适用于钴铬烤瓷合金中硅量的测定。测定范围0.10 %~2.00 %。...
-2022 土壤和沉积物有机物分析方法 第3部分:16种多环芳烃的测定 气相色谱-质谱法 DZ/T 0424.1-2022 石墨矿化学分析方法 第1部分:硅、铝、钙、镁、铁、钛、锰和磷含量的测定 碳酸钠熔融-电感耦合等离子体原子发射光谱法 DZ/T 0424.2-2022 石墨矿化学分析方法 第2部分:钾、钠、硅、铝、钙、镁、铁、钛、锰和磷含量的测定 偏硼酸锂熔融-电感耦合等离子体原子发射光谱法...
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