ASTM E2627-10
在完全再结晶的多晶体物质中使用电子背向反射衍射(EBSD)测定平均粒度的标准实施规程
Standard Practice for Determining Average Grain Size Using Electron Backscatter Diffraction (EBSD) in Fully Recrystallized Polycrystalline Materials
ASTM E2627-10 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- ASTM E2627-10
- 发布
- 2010年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 替代标准
- ASTM E2627-13
- 当前最新
- ASTM E2627-13(2019)
- 这种做法提供了一种估计多晶材料的平均晶粒尺寸的方法。它基于晶体取向的 EBSD 测量，晶体取向本质上是定量的。在某些材料中，这种方法比传统的光学晶粒尺寸测量具有特定的优势，因为在这些材料中很难找到适当的金相制备程序来充分描绘晶界。1.1 这种做法用于通过自动电子背散射衍射对晶粒面积的测量来确定晶粒尺寸(EBSD) 多晶材料扫描。 1.2 本实践的目的是标准化...
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