ASTM E2627-10
在完全再结晶的多晶体物质中使用电子背向反射衍射(EBSD)测定平均粒度的标准实施规程

Standard Practice for Determining Average Grain Size Using Electron Backscatter Diffraction (EBSD) in Fully Recrystallized Polycrystalline Materials


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 ASTM E2627-10 前三页,或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。

 

标准号
ASTM E2627-10
发布
2010年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM E2627-13
当前最新
ASTM E2627-13(2019)
 
 
适用范围
这种做法提供了一种估计多晶材料的平均晶粒尺寸的方法。它基于晶体取向的 EBSD 测量,晶体取向本质上是定量的。在某些材料中,这种方法比传统的光学晶粒尺寸测量具有特定的优势,因为在这些材料中很难找到适当的金相制备程序来充分描绘晶界。
1.1 这种做法用于通过自动电子背散射衍射对晶粒面积的测量来确定晶粒尺寸(EBSD) 多晶材料扫描。
1.2 本实践的目的是标准化自动 EBSD 仪器的操作,以直接从晶体取向测量 ASTM G。 E112 的指南和注意事项此处适用,但该标准的重点是 EBSD 实践。
1.3 本做法仅适用于完全再结晶的材料。
1.4 这种做法适用于任何产生足够质量的 EBSD 图案的晶体材料,可以使用自动索引软件对高比例的图案进行可靠索引。
1.5 本实践适用于任何类型的晶粒结构或晶粒尺寸分布。
1.6 以 SI 单位表示的值应被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。
1.7 以英寸-磅为单位的数值应被视为标准值。括号中给出的值是 SI 单位的数学转换,仅供参考,不被视为标准。

ASTM E2627-10相似标准


ASTM E2627-10 中可能用到的仪器设备


谁引用了ASTM E2627-10 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号