GB/T 4298-1984
半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法

The activation analysis method for the determination of elemental impurities in semiconductor silicon materials


GB/T 4298-1984 发布历史

本标准适用于单晶硅、多晶硅中金属杂质元素和非金属杂质元素含量的测定。

GB/T 4298-1984由国家质检总局 CN-GB 发布于 1984-03-28,并于 1985-03-01 实施,于 2017-12-15 废止。

GB/T 4298-1984 在中国标准分类中归属于: H17 半金属及半导体材料分析方法。

GB/T 4298-1984的历代版本如下:

  • 1984年03月28日 GB/T 4298-1984 半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法

GB/T 4298-1984



标准号
GB/T 4298-1984
发布日期
1984年03月28日
实施日期
1985年03月01日
废止日期
2017-12-15
中国标准分类号
H17
国际标准分类号
29.040.30
发布单位
CN-GB
适用范围
本标准适用于单晶硅、多晶硅中金属杂质元素和非金属杂质元素含量的测定。

GB/T 4298-1984系列标准





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