ANSI/IEEE 1149.7:2009
缩小型插脚和增强功能型测试接入端口和边界扫描架构标准

Standard for Reduced-pin and Enhanced-functionality Test Access Port and Boundary Scan Architecture

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标准号

ANSI/IEEE 1149.7:2009

发布

2009年

发布单位

美国国家标准学会

当前最新

ANSI/IEEE 1149.7:2009

 

 

适用范围

该标准描述了可以添加到集成电路中以提供对 ANSI/IEEE Std 1149.1TM-2001 指定的片上测试访问端口 (TAP) 的访问的电路。该电路以 ANSI/IEEE 1149.1-2001 作为基础，提供完全的向后兼容性，同时添加了支持测试和应用程序调试的功能。

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