GB/T 25184-2010由国家质检总局 CN-GB 发布于 2010-09-26,并于 2011-08-01 实施。
GB/T 25184-2010 在中国标准分类中归属于: G04 基础标准与通用方法。
GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪鉴定方法的最新版本是哪一版?
最新版本是 GB/T 25184-2010 。
本标准规定了X射线光电子能谱仪的检定方法。本标准适用于使用非单色化Al或Mg X射线或单色化Al X射线,且带有溅射清洁用离子枪的X射线光电子能谱仪的检定。
2)X射线源要求:单色,且线宽愈窄愈好。重元素的Ka线能量高,但峰过宽,通常采用轻元素Mg或Al作为靶材Mg 的Ka能量为1253.6eV,线宽为0.7eV;Al的Ka能量为1486.6eV,线宽为0.85eV。装有单色器,提高信噪比和分辨率,但降低了特征X射线的强度,影响仪器的检测灵敏度。调节能量分析器的电压U的大小,就在出口狭缝处依次接收到不同动能的光电子,获得光电子的能量分布,即XPS。...
可以测量光电子的能量,以光电子的动能为横坐标,相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子能谱图。从而获得试样有关信息。X射线光电子能谱因对化学分析最有用,因此被称为化学分析用电子能谱(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)。 1,元素的定性分析。可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。 2,元素的定量分析。...
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X射线光电子能谱分析X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射线去辐射样品,使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子,可以测量光电子的能量,以光电子的动能为横坐标,相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子能谱图,从而获得待测物组成。...
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