GB/T 25185-2010
表面化学分析.X射线光电子能谱.荷电控制和荷电校正方法的报告

Surface chemical analysis.X-ray photoelectron spectroscopy.Reporting of methods used for charge control and charge correction


GB/T 25185-2010 中,可能用到以下仪器

 

赛默飞Delta Ray稳定同位素比红外光谱仪

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赛默飞色谱与质谱分析

 

X射线光电子能谱仪 AMICUS型

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岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS Supra

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岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

EscaLab QXi X射线光电子能谱仪

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赛默飞分子光谱仪器

 

K-Alpha X射线光电子能谱仪

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赛默飞分子光谱仪器

 

结合光片与共聚焦技术 Leica TCS SP8 DLS

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

AccuOpt 2000 光电放大器组件

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中国科学院大连化学物理研究所

 

GB/T 25185-2010



标准号
GB/T 25185-2010
发布日期
2010年09月26日
实施日期
2011年08月01日
废止日期
中国标准分类号
G04
国际标准分类号
71.040.40
发布单位
CN-GB
引用标准
GB/T 22461-2008 GB/T 22571-2008
适用范围
本标准以最少量的资料描述了用X射线光电子能谱测量绝缘样品内能级结合能,及将在报告其分析结果时所采用的荷电控制和荷电校正方法,也给出了在结合能测量过程中对于荷电控制和荷电校正有用的方法资料。

GB/T 25185-2010系列标准


GB/T 25185-2010 中可能用到的仪器设备


谁引用了GB/T 25185-2010 更多引用





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