GB/T 25185-2010
表面化学分析.X射线光电子能谱.荷电控制和荷电校正方法的报告
Surface chemical analysis.X-ray photoelectron spectroscopy.Reporting of methods used for charge control and charge correction
GBT25185-2010, GB25185-2010
GB/T 25185-2010 发布历史
本标准以最少量的资料描述了用X射线光电子能谱测量绝缘样品内能级结合能，及将在报告其分析结果时所采用的荷电控制和荷电校正方法，也给出了在结合能测量过程中对于荷电控制和荷电校正有用的方法资料。
GB/T 25185-2010由国家质检总局 CN-GB 发布于 2010-09-26，并于 2011-08-01 实施。
GB/T 25185-2010 在中国标准分类中归属于: G04 基础标准与通用方法，在国际标准分类中归属于: 71.040.40 化学分析。
GB/T 25185-2010 采用标准及采用方式
- IDT ISO 19318:2004表面化学分析.X射线光电光谱法.电荷控制和电荷校正方法的报告
GB/T 25185-2010 发布之时，引用了标准
- GB/T 22461-2008 表面化学分析.词汇
- GB/T 22571-2008 表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准
GB/T 25185-2010的历代版本如下：
- 2010年 GB/T 25185-2010 表面化学分析.X射线光电子能谱.荷电控制和荷电校正方法的报告
- 标准号
- GB/T 25185-2010
- 别名
- GBT25185-2010
GB25185-2010 - 发布
- 2010年
- 采用标准
- ISO 19318:2004 IDT
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 25185-2010
- 引用标准
- GB/T 22461-2008 GB/T 22571-2008