ISO/TS 10867-2010
纳米技术.单层碳纳米管使用的近红外光激发光谱仪的特性
Nanotechnologies - Characterization of single-wall carbon nanotubes using near infrared photoluminescence spectroscopy
ISO/TS 10867-2010 发布历史
This Technical Specification provides guidelines for the characterization of single-wall carbon nanotubes (SWCNTs) using near infrared (NIR) photoluminescence (PL) spectroscopy. This Technical Specification provides a measurement method for the determination of the chiral indices of the semi-conducting SWCNT in a sample and their relative integrated PL intensities. The method can be expanded to estimate relative mass concentrations of semi-conducting SWCNTs in a sample from measured integrated PL intensities and knowledge of their PL cross-sections.
ISO/TS 10867-2010由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2010-09-15，并于 2010-09-15 实施。
ISO/TS 10867-2010 在中国标准分类中归属于: N52 色谱仪，在国际标准分类中归属于: 07.030 物理学、化学。
ISO/TS 10867-2010 发布之时，引用了标准
- ISO/TS 80004-3 *， 2020-11-18 更新
* 在 ISO/TS 10867-2010 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。
ISO/TS 10867-2010的历代版本如下：
- 2010年09月15日 ISO/TS 10867-2010 纳米技术.单层碳纳米管使用的近红外光激发光谱仪的特性
- 2019年12月04日 ISO/TS 10867-2019 纳米技术 - 使用近红外光致发光光谱法测定单壁碳纳米管的特征
- 标准号
- ISO/TS 10867-2010
- 发布日期
- 2010年09月15日
- 实施日期
- 2010年09月15日
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- N52
- 国际标准分类号
- 07.030
- 发布单位
- IX-ISO
- 引用标准
- ISO/TS 80004-3
- 适用范围
- This Technical Specification provides guidelines for the characterization of single-wall carbon nanotubes (SWCNTs) using near infrared (NIR) photoluminescence (PL) spectroscopy. This Technical Specification provides a measurement method for the determination of the chiral indices of the semi-conducting SWCNT in a sample and their relative integrated PL intensities. The method can be expanded to estimate relative mass concentrations of semi-conducting SWCNTs in a sample from measured integrated PL intensities and knowledge of their PL cross-sections.