ISO/TS 10867:2010
纳米技术.单层碳纳米管使用的近红外光激发光谱仪的特性
Nanotechnologies - Characterization of single-wall carbon nanotubes using near infrared photoluminescence spectroscopy
- 标准号
- ISO/TS 10867:2010
- 发布
- 2010年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO/TS 10867:2019
- 当前最新
- ISO/TS 10867:2019
- 引用标准
- ISO/TS 80004-3
- 适用范围
- 本技术规范提供了使用近红外 (NIR) 光致发光 (PL) 光谱表征单壁碳纳米管 (SWCNT) 的指南。本技术规范提供了一种测定样品中半导体 SWCNT 的手性指数及其相对积分 PL 强度的测量方法。该方法可以扩展到根据测量的积分 PL 强度和 PL 横截面的知识来估计样品中半导体 SWCNT 的相对质量浓度。
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